请问这个时候拉高引脚能够唤醒设备？

目前上电我们gpio会在进入entry main 后初始化为低电平。 中间有些引脚有毛刺时间约为8ns。 请问你们具体不可控现象是什么？ 可以描述下我们内部讨论下是否有解决方案。 boot源码没有对外开放也没有回调处理这个。

TY_RST_REASON_E tuya_hal_system_get_rst_info(VOID_T);
通过这个接口可以获取当前deep sleep 唤醒是gpio 还是rtc 唤醒。

应用层可以对adc进行校准。具体方案如下：
外部提供标志 1v 和 2v电压。 每个产品生产过程中进入一个特殊流程（tuya sdk 提供的扫描 tuya_mdev_test1 进入产测模式），然后采集这时候 1v 和 2v的实际adc读取的数据，写入到flash中。应用中使用 adc 采样时，读取的数据都往 flash中两个数据形成的直线上靠。

基于你们已经拉到完整的 UG 文件， 你们只要把 UG 文件中的涂鸦头去掉，把剩下的 UG 数据写到 0x12A000 地址上，重启设备就能正常升级了。 涂鸦头结构体如下：

请问是接了外部电路测试的，还是裸模组测试 P7 引脚？ 我们gpio默认上电都是低电平的。

BK7231N 平台 Tx2 和 ADC 可以初始化为gpio使用， 但是 不支持推挽模式。 Tx2 作为默认日志口，作为gpio后，就没有日志，需要日志的话可以把日志口切到Tx1 .

参考帖子：https://www.tuyaos.com/viewtopic.php?p= ... =adc#p5460

你好， 由于bk7231n 实际只有一个adc， 多个通道。 所以每次采样都是open后close。 调用tkl层的采样接口已经封装了open和close， 且为了减少采样误差进行了多个数据采样取均值提供给上层。 所以这里调用tkl层接口的采样频率不是初始化设定值， 取绝于上层调用接口读取速率，只是限制了最快速率（掉一次tkl层接口所用时间）。
如果要更高采样频率，可以参考tkl层接口，直接使用原厂接口采样。

你好，请问下使用的是哪个sdk版本？