你把分压电阻改为小于100k 测试试试。
由于内部adc电阻是1M， 外部还使用1M电阻分压。导致采样周期太长，会出现采样不准情况。

目前 T3 ADC0 已经给内部使用了，外部不能使用。我们自己测试没有出现采样值为实际值的2倍情况。 麻烦提供下你们调用adc的代码，我们先看下。

安装下 CMake

T3 flash 分区表 不用参考这个bk7236_partitions.csv， 分区没有根据这个分区。 以 tkl_flash.c为准。 ota升级方案是涂鸦的升级方案，没有固定的ota区， 起始地址是根据ota文件大小动态计算的。

问题已经处理，在下个版本迭代合入。目前你们可以在当前版本替换附件 spi_driver.c 和 tkl_spi.c 中打开使用 bk_spi_dma_write_bytes_async 接口。

附件：

烧录 UA 文件， 烧录起始地址设置为 0x11000

暂时需要手动更新下 pwm 驱动，后面版本迭代会合入patch。 更新驱动合入下面 patch：

更新的文件：

app_init 是产测完后的第一个应用入口函数。 不会影响产测的

放到 app_init 这个函数中调用这个接口试试